Die detaillierte Charakterisierung der durch Grenzflächen induzierten Funktionalitäten oxidischer Heterostrukturen ist essentiell für die Konstruktion elektronischer Bauelemente. In der vorliegenden Arbeit wurden deshalb ultradünne Filme perowskitischer Materialien mit oberflächensensitiven Messmethoden (STM, STS, LEED) hinsichtlich ihrer topographischen und elektronischen Eigenschaften untersucht. Beim System SrRuO3/SrTiO3(001) war vor allem die Abhängigkeit der Topographie von der Temperatur unter oxidierenden und reduzierenden Bedingungen von Interesse, wobei eine Oberflächenrekonstruktion mit der Ausbildung von Sr2RuO4 nachgewiesen und ein Modell zur Terminierung der Oberfläche erstellt werden konnte. Im Fall von BaTiO3/Pt(111) wurden neben BaTiO3(111)-Inseln mit einer Moiré-Struktur auch eine periodische Wiederbenetzungsschicht, der Kepler-Approximant, charakterisiert. Mittels SPA-LEED konnte eine detaillierte Strukturanalyse durchgeführt und die Epitaxiematrix bestimmt werden. |