Titelaufnahme

Titel
Photoelektronenbeugung an Übergangsmetalloxiden / von Christian Langheinrich
VerfasserLangheinrich, Christian
BetreuerChassé, Angelika Dr. ; Westphal, Carsten Prof. Dr. ; Hergert, Wolfram Prof. Dr.
Erschienen2011 ; Halle, Saale : Universitäts- und Landesbibliothek Sachsen-Anhalt, 2011
UmfangOnline-Ressource (II, 96 S. = 12,75 mb)
HochschulschriftHalle, Univ., Naturwissenschaftliche Fakultät II, Diss., 2011
Anmerkung
Tag der Verteidigung: 09.05.2011
Sprache der Zusammenfassung: Englisch
SpracheDeutsch
DokumenttypE-Book
SchlagwörterOxidschicht / Elektronenbeugung / Halle
URNurn:nbn:de:gbv:3:4-5371 
Zugriffsbeschränkung
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Photoelektronenbeugung an Übergangsmetalloxiden [12.75 mb]
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Nachweis
Keywords
Simulation; Mehrfachstreu-Cluster-Modell (MSCM); Röntgenphotoelektronenbeugung (XPD); Epitaktische MnO-Filme; Photoemission; Ultradünne Filme; Interferenz; Tetragonale Verzerrung
Keywords (Englisch)
Simulation; multiple-scattering-cluster-model (MSCM); x-ray photoelectron diffraction (XPD); epitaxial MnO films; photoemission; ultrathin films; interference; tetrahedral distortion
Keywords
In der vorliegenden Arbeit werden Simulationen mit dem Mehrfachstreu-Cluster-Modell (MSCM) durchgeführt. Es wird gezeigt dass der einfache Ansatz des Vorwärtsstreumodells wegen starker Interferenzen nicht zur Bestimmung der Struktur von 3d-Übergangsmetallmonoxidfilmen ausreicht. Die Struktur von ultradünnen Filmen aus zwei Experimenten (MnO/Ag(001) 0.5-20ML) wird im Rahmen einer R-Faktor-Analyse bestimmt. Dabei werden simulierte Röntgenphotoelektronenbeugungs-Spektren (XPD-Spektren) zu verschiedenen Strukturmodellen mit den experimentell gemessenen Spektren verglichen. Alle Filme weisen eine tetragonale Verzerrung auf die vom Wachstumsmechanismus abhängt (Temperatur und Dauer des Temperns).