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| Nachweis | Kein Nachweis verfügbar |
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Simulation; Mehrfachstreu-Cluster-Modell (MSCM); Röntgenphotoelektronenbeugung (XPD); Epitaktische MnO-Filme; Photoemission; Ultradünne Filme; Interferenz; Tetragonale Verzerrung | |
Simulation; multiple-scattering-cluster-model (MSCM); x-ray photoelectron diffraction (XPD); epitaxial MnO films; photoemission; ultrathin films; interference; tetrahedral distortion | |
In der vorliegenden Arbeit werden Simulationen mit dem Mehrfachstreu-Cluster-Modell (MSCM) durchgeführt. Es wird gezeigt dass der einfache Ansatz des Vorwärtsstreumodells wegen starker Interferenzen nicht zur Bestimmung der Struktur von 3d-Übergangsmetallmonoxidfilmen ausreicht. Die Struktur von ultradünnen Filmen aus zwei Experimenten (MnO/Ag(001) 0.5-20ML) wird im Rahmen einer R-Faktor-Analyse bestimmt. Dabei werden simulierte Röntgenphotoelektronenbeugungs-Spektren (XPD-Spektren) zu verschiedenen Strukturmodellen mit den experimentell gemessenen Spektren verglichen. Alle Filme weisen eine tetragonale Verzerrung auf die vom Wachstumsmechanismus abhängt (Temperatur und Dauer des Temperns). |
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