Titelaufnahme

Titel
Topographie und elektronische Eigenschaften von ultradünnen Perowskit-Schichten : SrRuO3/SrTiO3(001) und BaTiO3/Pt(111) / von Martin Trautmann
VerfasserTrautmann, Martin
BetreuerWiddra, Wolf Prof. Dr. ; Hesse, Dietrich Prof. Dr. ; Nilius, Niklas Prof. Dr.
Erschienen2015 ; Halle, Saale : Universitäts- und Landesbibliothek Sachsen-Anhalt, 2015
UmfangOnline-Ressource (126 Bl. = 15,31 mb)
HochschulschriftHalle, Univ., Naturwissenschaftliche Fakultät II, Diss., 2015
Anmerkung
Tag der Verteidigung: 15.07.2015
Sprache der Zusammenfassung: Englisch
SpracheDeutsch
DokumenttypE-Book
SchlagwörterPerowskit / Rastertunnelmikroskopie / LEED / Halle
URNurn:nbn:de:gbv:3:4-15447 
Zugriffsbeschränkung
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Topographie und elektronische Eigenschaften von ultradünnen Perowskit-Schichten [15.3 mb]
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Keywords
STM; STS; LEED; SrRuO3; BaTiO3; Perowskit; Oxid; ultradünne Filme; Oberflächenrekonstruktion; Approximant
Keywords (Englisch)
STM; STS; LEED; SrRuO3; BaTiO3; perovskite; oxide; ultrathin films; surface reconstruction; approximant
Keywords
Die detaillierte Charakterisierung der durch Grenzflächen induzierten Funktionalitäten oxidischer Heterostrukturen ist essentiell für die Konstruktion elektronischer Bauelemente. In der vorliegenden Arbeit wurden deshalb ultradünne Filme perowskitischer Materialien mit oberflächensensitiven Messmethoden (STM STS LEED) hinsichtlich ihrer topographischen und elektronischen Eigenschaften untersucht. Beim System SrRuO3/SrTiO3(001) war vor allem die Abhängigkeit der Topographie von der Temperatur unter oxidierenden und reduzierenden Bedingungen von Interesse wobei eine Oberflächenrekonstruktion mit der Ausbildung von Sr2RuO4 nachgewiesen und ein Modell zur Terminierung der Oberfläche erstellt werden konnte. Im Fall von BaTiO3/Pt(111) wurden neben BaTiO3(111)-Inseln mit einer Moiré-Struktur auch eine periodische Wiederbenetzungsschicht der Kepler-Approximant charakterisiert. Mittels SPA-LEED konnte eine detaillierte Strukturanalyse durchgeführt und die Epitaxiematrix bestimmt werden.
Keywords
A detailed characterization of functionalities of oxidic heterostructures induced at interfaces is essential for the construction of electronic devices. Therefore in this thesis ultrathin films of perovskites were examined with surface-sensitive measuring methods (STM STS LEED) concerning their topographic and electronic properties. For the system SrRuO3/SrTiO3 (001) the dependency of the topography of the temperature under oxidizing and reducing conditions was investigated. A surface reconstruction with the development of Sr2RuO4 and a model for the termination of the surface could be obtained from the results. In the case of BaTiO3/Pt (111) next to BaTiO3 (111)-islands with a moiré structure also a periodic rewetting layer the Kepler-approximant was characterized. By additional SPA-LEED measurements a detailed structural analysis and the corresponding epitaxy matrix were determined.