In dieser Arbeit wurde gezeigt, dass mit der spinpolarisierten Rastertunnelmikroskopie (spin-polarized scanning tunneling microscopy (Sp-STM)) eine wohldefinierte Komponente der Spinpolarisation in der Ebene der Probenoberfläche mit einer hohen lateralen Auflösung (mindestens 1nm) abgebildet werden kann. Als Rasterelektrode wurde ein ferromagnetischer Ring eingesetzt. Die Methode des Sp-STM wurde genutzt, um die Spinanordung von antiferromagnetischen Oberflächen zu untersuchen. Der Schwerpunkt dieser Arbeit ist die Abbildung von dünnen, lagenweise antiferromagnetischen Mn und Cr Filmen, die sich im direkten Kontakt zu einem ferromagnetischen Fe(001) Substrat befinden. In den Sp-STM Bildern ist die antiferromagnetische Ordnung von aufeinanderfolgenden Mn beziehungsweise Cr Lagen an der Oberfläche deutlich sichtbar. An der Oberfläche von Mn Filmen auf Fe(001) wurden magnetisch frustrierte Bereiche gefunden. Diese Bereiche, in denen die magnetische Ordnung gestört ist, wurden durch das Vorhandensein von atomaren Stufen an der Grenzfläche zwischen Film und Substrat erklärt.
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