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| Nachweis | Kein Nachweis verfügbar |
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM); Röntgendiffaktometrie (XRD); Rasterkraftmikroskopie (AFM); Festkörperreaktion; Seltenerdzirkonate; Yttrium-stabilisiertes Zirkondioxid (YSZ); Mangan-stabilisiertes Zirkondioxid; Dünne Schichten; Epitaxie | |
transmission electron microscopy (TEM); X-ray diffraction (XRD); atomic force microscopy (AFM); solid state reaction; rare earth zirconates; yttria-stabilized zirconia (YSZ); manganese-stabilized zirconia; thin films; epitaxial growth. | |
In dieser Arbeit wurden im ersten Teil Seltenerdzirkonate durch Festkörperreaktion von verschiedenen Seltenerdmetalloxiden (RE2O3 mit RE = La Pr Nd Sm Gd Ho) mit einkristallinem Yttrium-stabilisiertem Zirkondioxid (YSZ) hergestellt und anschließend mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) Röntgendiffraktometrie (XRD) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) untersucht. Es wurden sowohl Reaktionen zwischen einem Seltenerdmetalloxid-Dampf und dem YSZ-Einkristall (Gas-Fest-Reaktion) als auch Reaktionen zwischen einer dünnen Seltenerdmetalloxidschicht und dem YSZ-Einkristall (Fest-Fest-Reaktion) untersucht. Weiterhin wurde der Einfluß der Grenzfläche durch Benutzung unterschiedlicher Substratorientierungen untersucht. Im zweiten Teil der Arbeit wurden dünne Schichten aus epitaktischem Manganstabilisiertem Zirkondioxid auf YSZ-Einkristallen durch zwei unterschiedliche Methoden hergestellt und mittels XRD und TEM untersucht. |
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