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| | Nachweis | Kein Nachweis verfügbar |
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| Positronenannihilations-Lebensdauerspektroskopie; metal-organic frameworks; pseudomorphe Umwandlung; Low-k dielektrische Schichten; langsamer Positronenstrahl | |
| Positron annihilation lifetime spectroscopy metal-organic frameworks pseudomorphic transformation low-k dielectric layers slow positron beam | |
| Die Positronenannihilations-Lebensdauerspektroskopie (PALS) ist eine leistungsfähige Untersuchungsmethode der Porosimetrie. In dieser Arbeit wurde PALS als eine ergänzende Technik der Porosimetrie verwendet. Mit PALS als Hauptmethode wurden drei verschiedene poröse Systeme (MOFs mesoporöses Silica und Low-k dielektrische Schichten) untersucht. PALS half das Verhalten einiger MOFs (Porenkollaps Porositätsinstabilität und die hohe Gasaufnahme bestimmter MOFs) zu verstehen. Weiterhin lieferte die Untersuchung des pseudomorphen Umwandlungsprozesses von drei verschiedenen Systemen durch PALS erstmalig interessante Resultate welche beim Verständnis des Mechanismus dieses Prozesses half. Ein Positronenstrahl wurde verwendet um die minimale Aushärtungszeit zur Bildung einer porösen dielektrischen Schicht nach dem selbstorganisierenden Ansatz zu bestimmen. Es zeigte sich dass die gebildeten Poren offen sind und ihre Größe und Konzentration von der Aushärtungszeit und der Tiefe abhängen. | |
| Positron annihilation lifetime spectroscopy (PALS) is a powerful technique of porosimetry. In this thesis PALS was used as a complementary technique of porosimetry to overcome the limitations of the conventional tools. Three different porous systems (metal-organic frameworks (MOFs) mesoporous silica and low-k dielectric layers) have been investigated by PALS as a main tool. PALS helped for understanding the behavior of some MOFs (pore collapse porosity instability and the high gas uptake of certain MOFs). On the other hand investigation of the pseudomorphic transformation process of three different systems by PALS for the first time gave very interesting findings and helped for understanding the mechanism of the transformation process. Slow positron beam was used to know the minimum curing time to form porous dielectric layer by the self-assembling approach and it showed that the formed pores are open and their sizes and concentration depend of the curing time and the depth. |
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