Der Einbau von Iodidionen in Silberbromidmikrokristalle beeinflußt entscheidend deren photochemisches Verhalten. Es gibt verschiedene Möglichkeiten Iodidionen in den AgBr-Kristall einzubauen (z.B. statistisch verteilt, strukturiert, durch Konvertierung). Dabei entscheidet die Art der Einbringung wesentlich über Verteilung sowie lokale Konzentration des Iodids und somit auch über Bildung sowie Wirksamkeit von Heteroübergängen. Anhand der Fällungsdaten allein erhält man aber nur ungenügende Informationen über die tatsächliche Iodidtopographie im Kristall. In der vorliegenden Arbeit werden dementsprechend die ionischen, photoelektrischen und optischen Eigenschaften von realen AgBr1-xIx-Mischkristallen für einen großen Konzentrationsbereich des Iodids in Abhängigkeit von der Art der Einbringung charakterisiert. Das Ziel dieser Untersuchungen ist, Informationen über die reale Verteilung, Konzentration und Wirksamkeit des Iodids in diesen Mischkristallen zu erhalten. Zur Charakterisierung der Proben werden im wesentlichen Messungen der Tieftemperaturlumineszenz, des dielektrischen Verlustes und der Photo-EMK genutzt. Die Ergebnisse der einzelnen Meßverfahren werden sowohl untereinander als auch mit weiteren zur Verfügung stehenden Daten, wie elektronenmikroskopische Aufnahmen, röntgenographische und Fällungsdaten sowie sensitometrische Angaben, verglichen. Die in dieser Arbeit gewonnenen Erkenntnisse sind von wesentlicher Bedeutung für die praktische Photographie, insbesondere für die Emulsionstechnologie. Es wird gezeigt, daß durch definierten Einbau von Iodidionen in AgBr-Mikrokristalle die Effizienz der Latentbildentstehung deutlich gesteigert werden kann. Durch den Einsatz moderner in situ-Meßverfahren ist es möglich, wesentliche Erkenntnisse über die dabei wirkenden Mechanismen zu gewinnen.
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