Gelbrost wird durch das obligate Pathogen Puccinia striiformis f. sp. tritici verursacht und ist eine wirtschaftlich bedeutsame Krankheiten in vielen Teilen der Welt. In Äthiopien liegen die Kornertragsverluste bei anfälligen Weizensorten zwischen 30 und 69%. Die Nutzung rostresistenter Sorten ist die ökonomischste und umweltverträglichste Strategie, um Ertragsverluste zu reduzieren. In der vorliegenden Arbeit, die die Struktur der Pathogenpopulation analysiert, wurden 107 Einpustelisolate auf 24 Differenzialsorten mit bekannten Resistenzen untersucht. Die Isolate wurden 39 Pathotypen zugeordnet. Die Isolate enthielten sieben bis 16 und im Mittel 11.72 Virulenzen. Signifikante phänotypische und genetische Unterschiede hinsichtlich der Regionen, in denen gesammelt wurde, konnten sowohl innerhalb als auch zwischen den Populationen beobachtet werden. Es gab keinen gemeinsamen Pathotyp in diesen Regionen. Regionale Unterschiede hinsichtlich der genetischen Variation der Pathotypen deuten darauf hin, dass die Weizensorten auf regionaler Basis entwickelt und für die Produktion zugelassen wurden. Die Gelbrostresistenzgene von 40 äthiopischen Saat- und Durumweizensorten wurden sowohl mit klassischen als auch mit molekularen Methoden identifiziert. Bei der klassischen Methode wurden die Yr-Gene der Sorten dadurch bestimmt, dass ihre Reaktionsmuster gegenüber 20 Gelbrostisolaten mit denen der Differenzialgenotypen verglichen wurden. Von den getesteten 24 Saatweizen wurden in 18 Sorten die Resistenzgene Yr2, Yr3b, Yr4, Yr6, Yr7, Yr8, Yr9, Yr27, Yr32, YrA, und YrSu nachgewiesen Von den getesteten 15 Durumweizen enthielten fünf die Gene Yr3b, Yr8, Yr27, Yr32, und YrA in unterschiedlichen Kombinationen. Mikrosatellitenmarker wurden für die Kartierung der Resistenzgene in vier resistenten Saatweizensorten eingesetzt. Die F2-Kartierungspopulationen wurden durch Kreuzung der resistenten Eltern mit der anfälligen deutschen Sorte Thasos erstellt. Mit Hilfe der Bulk-Segregant-Analyse wurden Mikrosatelliten identifiziert, die an den Resistenzlocus gekoppelt sind. Kopplungsanalysen und -karten wurden für die molekularen Marker und die Resistenzen mit Hilfe von Jointmap erstellt. In der Sorte Suf-Omer sind die Markerloci Xgwm181, Xgwm340 und Xgwm247 auf Chromosom 3BL an das Yr-Gen mit Rekombinationsraten von 4,4%, 7,8% und 15,2% gekoppelt. Die Markerloci Xgwm759 und Xgwm131 auf Chromosom 1BL sind mit dem Yr-Gen der Sorte Wetera mit Rekombinationsraten von 4,2 und 6,8% gekoppelt. Der Marker Xgwm577 ist mit einer Rekombinationsrate von 14,7% mit dem Yr-Gen in der Sorten Wabe gekoppelt. Dieser Marker ist auf dem langen Arm von Chromosom 7B lokalisiert. Ein weiterer gekoppelter Marker, Xgwm238, hat eine Rekombinationshäufigkeit von 28%.
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